Normal view MARC view ISBD view

İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması /

Can, Serdar Zafer

İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması / Serdar Zafer Can. - Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2015. - xi 42 sayfa ; 29 cm.

Tez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Ağustos 2015

Subjects--Topical Terms:
Tezler, Akademik
Dissertations, Academic

Subjects--Index Terms: Bit impact Vulnerability Soft errors Microprocessors Hataya karşı dayanıklılık Geçici hatalar Mikroişlemciler

Print
Add to your cart (remove)
Send to device
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (TO-KAT) Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)