Can, Serdar Zafer <br/><br/>
İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması / 
Serdar Zafer Can. 
 - Ankara :  TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü,  2015. 
 - xi 42 sayfa ;  29 cm. 
<br/><br/>Tez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Ağustos 2015 
<br/><br/>
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Tezler, Akademik<br/>Dissertations, Academic
<br/><br/><label>Subjects--Index Terms: </label>Bit impact Vulnerability Soft errors Microprocessors Hataya karşı dayanıklılık Geçici hatalar Mikroişlemciler