TY  - GEN
AU  - Can,Serdar Zafer
ED  - TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi.
TI  - İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması
PY  - 2015///
CY  - Ankara
PB  - TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü
KW  - Tezler, Akademik
KW  - Dissertations, Academic
KW  - Bit impact
KW  - Vulnerability
KW  - Soft errors
KW  - Microprocessors
KW  - Hataya karşı dayanıklılık
KW  - Geçici hatalar
KW  - Mikroişlemciler
N1  - Tez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Ağustos 2015; Includes bibliographical references
ER  -