Your search returned 5 results.

Not what you expected? Check for suggestions

Results
		No cover image available Yazmaç öbeğini geçici hatalara karşı korumak için yerleşik karşılaştırıcılı SRAM Bit hücrelerinin kullanılması / Mehmet Kayaalp. by Kayaalp, Mehmet TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü Language: Türkçe Publication details: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2010 Dissertation note: Tez (Y. Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enst. Haziran 2010. Online resources: click view Availability: Not available: Merkez Kütüphane: Ödünç Verilemez-Tez / Not For Loan-Thesis (1). Add to cart (remove)
		No cover image available Sram tabanlı cihazlarda 2-boyutlu EG-LDPC kodlardan yararlanılarak uzayın radyasyon ortamından kaynaklanan geçici hatalara karşı koruma sağlması / Mustafa Demirci. by Demirci, Mustafa TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü Language: Türkçe Publisher: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2013 Dissertation note: Tez (Y. Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, Mart 2013 Online resources: click view Availability: Not available: Merkez Kütüphane: Ödünç Verilemez-Tez / Not For Loan-Thesis (1). Add to cart (remove)
		No cover image available Mikroişlemcilerde sanal adreslerden yararlanılarak geçici hatalara karşı koruma sağlanması / Yaman Çakmakçı. by Çakmakçı, Yaman TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü Language: Türkçe Publication details: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2012 Dissertation note: Tez (Y. Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enst. Temmuz 2012 Online resources: click view Availability: Not available: Merkez Kütüphane: Ödünç Verilemez-Tez / Not For Loan-Thesis (1). Add to cart (remove)
		No cover image available İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması / Serdar Zafer Can. by Can, Serdar Zafer TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü Language: Türkçe Publication details: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2015 Dissertation note: Tez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Ağustos 2015 Online resources: click view Availability: Not available: Merkez Kütüphane: Ödünç Verilemez-Tez / Not For Loan-Thesis (1). Add to cart (remove)
		No cover image available İşlemci yazmaçlarının güç ve güvenilirlik açısından verimsizliğinin engellenmesi / Eker, Abdulaziz. by Eker, Abdulaziz TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü Language: Türkçe Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2016 Dissertation note: Tez (Doktora)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enst. Haziran 2016 Online resources: click view Availability: Not available: Merkez Kütüphane: Ödünç Verilemez-Tez / Not For Loan-Thesis (1). Add to cart (remove)

Devinim Yazılım Eğitim Danışmanlık tarafından Koha'nın orjinal sürümü uyarlanarak geliştirilip kurulmuştur.