TOBB ETU Library catalog › Results of search for 'su:"Geçici hatalar."'

Search

Your search returned 5 results.

Not what you expected? Check for suggestions

		No cover image available Yazmaç öbeğini geçici hatalara karşı korumak için yerleşik karşılaştırıcılı SRAM Bit hücrelerinin kullanılması / Mehmet Kayaalp. by Kayaalp, Mehmet \| TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü. Language: Türkçe Publisher: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2010Dissertation note: Tez (Y. Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enst. Haziran 2010. Online access: click view Availability: Items available for reference: Merkez Kütüphane [Call number: TEZ TOBB FBE BİL YL'10 KAY] (1). Location(s): Tezler TEZ TOBB FBE BİL YL'10 KAY. Add to cart (remove)
		No cover image available Sram tabanlı cihazlarda 2-boyutlu EG-LDPC kodlardan yararlanılarak uzayın radyasyon ortamından kaynaklanan geçici hatalara karşı koruma sağlması / Mustafa Demirci. by Demirci, Mustafa \| TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü. Language: Türkçe Publisher: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2013Dissertation note: Tez (Y. Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, Mart 2013 Online access: click view Availability: Items available for reference: Merkez Kütüphane [Call number: TEZ TOBB FBE ELE YL'13 DEM] (1). Location(s): Tezler TEZ TOBB FBE ELE YL'13 DEM. Add to cart (remove)
		No cover image available Mikroişlemcilerde sanal adreslerden yararlanılarak geçici hatalara karşı koruma sağlanması / Yaman Çakmakçı. by Çakmakçı, Yaman \| TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü. Language: Türkçe Publisher: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2012Dissertation note: Tez (Y. Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enst. Temmuz 2012 Online access: click view Availability: Items available for reference: Merkez Kütüphane [Call number: TEZ TOBB FBE BİL YL'12 ÇAK] (1). Location(s): Tezler TEZ TOBB FBE BİL YL'12 ÇAK. Add to cart (remove)
		No cover image available İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması / Serdar Zafer Can. by Can, Serdar Zafer \| TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü. Language: Türkçe Publisher: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2015Dissertation note: Tez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Ağustos 2015 Online access: click view Availability: Items available for reference: Merkez Kütüphane [Call number: TEZ TOBB FBE BİL YL'15 CAN] (1). Location(s): Tezler TEZ TOBB FBE BİL YL'15 CAN. Add to cart (remove)
		No cover image available İşlemci yazmaçlarının güç ve güvenilirlik açısından verimsizliğinin engellenmesi / Eker, Abdulaziz. by Eker, Abdulaziz \| TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü. Language: Türkçe Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2016Dissertation note: Tez (Doktora)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enst. Haziran 2016 Online access: click view Availability: Items available for reference: Merkez Kütüphane [Call number: TEZ TOBB FBE BİL Ph.D’16 EKE] (1). Location(s): Tezler TEZ TOBB FBE BİL Ph.D’16 EKE. Add to cart (remove)

Devinim Yazılım Eğitim Danışmanlık tarafından Koha'nın orjinal sürümü uyarlanarak geliştirilip kurulmuştur.

Languages:
English
Türkçe