000 07225nam a2200409 i 4500
999 _c200453490
_d71702
003 TR-AnTOB
005 20230908001006.0
007 ta
008 171111s2023 xxu e mmmm 00| 0 eng d
035 _a(TR-AnTOB)200453490
040 _aTR-AnTOB
_beng
_erda
_cTR-AnTOB
041 0 _atur
099 _aTEZ TOBB FBE ELE YL’23 SEV
100 1 _aSevimçok, Sabri
_eauthor
_9142408
245 1 0 _aElektronik devre tasarımları için güvenilirlik ve kullanılabilirlik analizi /
_cSabri Sevimçok; thesis advisor Tolga Girici.
246 1 1 _aReliability and availability analysis for electronic circuit design
264 1 _aAnkara :
_bTOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü,
_c2023.
300 _axxii, 99 pages :
_billustrations ;
_c29 cm
336 _atext
_btxt
_2rdacontent
337 _aunmediated
_bn
_2rdamedia
338 _avolume
_bnc
_2rdacarrier
502 _aTez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Nisan 2023
520 _aGünümüzde emniyet-kritik, görev-kritik, uçuş-kritik veya insan hayatını doğrudan etkileyebilecek uygulamalarda güvenilirlik gereksinimleri sistemler için tanımlanmaktadır. Bu tez kapsamında elektronik tasarım süreci sonrası fakat tasarımın üretimi öncesi yapılan güvenilirlik, kullanılabilirlik ve hata oranı analizleri ele alınmıştır. Bu tez, örnek bir DC/DC dönüştürücü ve Ayrık G/Ç (Giriş/Çıkış) elektronik devre katları için güvenilirlik, kullanılabilirlik ve Arızalar Arasındaki Ortalama Süre (MTBF) analizini sağlar. Bu yapıların tercih edilme sebebi günümüzdeki birçok uygulamanın elektronik tasarımlarında sıklıkla kullanılıyor olmalarıdır. Örnek elektronik devrenin tasarım aşamasında tüm elektronik bileşenlerin seçim adımları gösterilmiştir. Ek olarak, örnek elektronik devreler tasarlanırken hedeflenen güvenilirlik gereksinimleri dikkate alınmıştır ve bu doğrultuda elektronik bileşenler seçilmiştir. Örnek elektronik devre tasarımının her aşaması, tasarımın çalışma prensibinin daha iyi anlaşılabilmesi için açıklanmıştır. Güvenilirlik analizinde izlenecek adımlar ve dikkat edilmesi gereken noktalar belirtilmiştir. Hata Ağacı Analizi (FTA) ve güvenilirlik blok yapıları, güvenilirlik analizi yaklaşımının bir parçası olarak açıklanmıştır. FTA analizinin adımları anlatılmıştır ve FTA analizinde modülerlik yaklaşımının önemi vurgulanmıştır. Bu kapsamda hata ve arızaların sınıflandırılmasında yararlanılan şiddet kategorileri, olasılık seviyeleri ve risk değerlendirme matrisi detayları da verilmektedir. Güvenirlik blok yapısı ile ilgili olarak seri ve paralel yapılar açıklanmıştır ve tez kapsamında yapılan analizlerde bu yapıların kombinasyonları da kullanılmıştır. Güvenilirlik, kullanılabilirlik ve hata oranı analizlerinde kullanılacak parametrelerden bahsedilmiş ve ilgili matematiksel formüller türetilmiştir. Fonksiyonel Arızalar Arası Geçen Ortalama Süre (MTBFF) analizine yönelik bakış açısı açıklanmıştır. Örnek elektronik devrenin güvenilirlik, kullanılabilirlik ve arıza oranı analizleri, FTA ve güvenilirlik blok diyagramı yaklaşımları kullanılarak yapılmıştır. Örnek elektronik devreye ait katların olası tüm arıza tipleri, dört farklı arıza tipi tanımlanmış ve her arıza, elektronik bileşen seviyesinde incelenmiştir. Bu inceleme sonucunda her bir arıza için FTA analizi çıktıları gösterilmiştir. Güvenilirlik ve kullanılabilirlik hesaplamaları excel ortamında 10 yıllık süre için yapılmıştır. Analizlerde elektronik bileşen üreticileri tarafından sağlanan güvenilirlik verileri kullanılmıştır. Yapılan analizler sonucunda hedeflenen güvenilirlik değerine ulaşıldığı gösterilmiştir. Bu çalışmada, elektronik devre tasarımında güvenilirliğin öneminin, bir bileşenden başlayarak tüm sisteme olan etkisi gösterilmiştir.
520 _aToday, reliability requirements are defined for systems in safety-critical, mission-critical, flight-critical or applications that can directly affect human life. In this thesis, reliability, availability and failure rate analyses made after electronic design process but before production of the design are discussed. This thesis provides a reliability, availability and Mean Time Between Failure (MTBF) analyses for a sample DC/DC converter and Discrete I/O (Input/Output) electronic circuit stages. The reason why these structures are preferred is that they are frequently used in electronic designs of many applications today. During the design phase of the sample electronic circuit, the determination steps of all electronic components are shown. Additionally, the targeted reliability requirements were taken into account while designing the sample electronic circuits and electronic components were selected accordingly. Each step of the sample electronic circuit design were explained in order to better understand the operating of the design. The steps to be followed in the reliability analysis and the points to be considered are explained. Failure Tree Analysis (FTA) and reliability block structures were explained as a part of reliability analysis approach. The steps of FTA analysis are explained and the importance of modularity approach in FTA analysis is emphasized. In this context, severity categories, probability levels and risk assessment matrix details used in the classification of failures and malfunctions are also given. Regarding the reliability block structure, serial and parallel structures are explained and combinations of these structures are also used in the analyses made within the scope of the thesis. The parameters to be used in reliability, availability and failure rate analyses are mentioned, and the relevant mathematical formulas are derived. The perspective for Mean Time Between Functional Failure (MTBFF) is explained. Reliability, availability and failure rate analyses of sample electronic circuit were performed using the FTA and reliability block diagram approaches. All possible failure types, four different failure types, of sample electronic circuit stages were defined and each failure examined at electronic component level. As a result of this examination, FTA analysis outputs are shown for each failure. Reliability and availability calculations were made in excel environment for 10-years period. Reliability data provided by electronic component manufacturers were used in the analysis. As a result of the analyses made, it was shown that the targeted reliability value was achieved. In this study, the effect of the importance of reliability on the whole system, starting from a component in electronic circuit design, has been demonstrated.
653 _aElektronik tasarım
653 _aGüvenilirlik
653 _aKullanılabilirlik
653 _aMTBF
653 _aFTA
653 _aElectronic design
653 _aReliability
653 _aAvailability
700 1 _aGirici, Tolga
_9127316
_eadvisor
710 _aTOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi.
_bFen Bilimleri Enstitüsü
_977078
942 _cTEZ
_2z