Image from Google Jackets

İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması / Serdar Zafer Can.

By: Language: Türkçe Publication details: Ankara : TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü, 2015.Description: xi 42 sayfa ; 29 cmContained works:
  • TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi. Fen Bilimleri Enstitüsü
Subject(s): Online resources: Dissertation note: Tez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Ağustos 2015
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Star ratings
    Average rating: 0.0 (0 votes)
Holdings
Item type Current library Home library Collection Call number Vol info Copy number Status Notes Date due Barcode
Thesis Thesis Merkez Kütüphane Tez Koleksiyonu / Thesis Collection Merkez Kütüphane Tezler TEZ TOBB FBE BİL YL'15 CAN (Browse shelf(Opens below)) 1 1 Ödünç Verilemez-Tez / Not For Loan-Thesis Tez TZ00525

Tez (Yüksek Lisans)--TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü Ağustos 2015

There are no comments on this title.

to post a comment.
Devinim Yazılım Eğitim Danışmanlık tarafından Koha'nın orjinal sürümü uyarlanarak geliştirilip kurulmuştur.